Stefano Ridolfi

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Stefano Ridolfiè laureato in fisica. E’ Responsabile Tecnico di Ars Mensurae, la prima compagnia spin off Italiana, dedicata specificamente allo sviluppo e all’uso di sistemi portatili per analisi non invasive, nel settore dei Beni Culturali. Insegna all’Università ”Sapienza” di Roma. E’ autore di numerose pubblicazioni scientifiche e capitoli di libri che riguardano l’ottimizzazione e l’uso di sistemi portatili ED-XRF applicati agli studi di beni culturali. Un particolare aspetto delle sue ricerche riguarda il miglioramento e lo sviluppo di micro sistemi XRF per analisi “in situ”, sistemi macro XRF per l’elemental imaging (mappa della distribuzione degli elementi costituenti la superficie di un oggetto), e lo sviluppo di specifiche SOP (Standard Operating Procedure) per l’analisi di metalli antichi, superfici policrome e materiali lapidei